CXT2661手持式四探針測試儀

CXT2661手持式四探針測試儀

CXT2661手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料方阻/電阻/電阻率的多用途綜合測量裝置儀器。本儀器采用高性能微處理器，用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、寬量程、精度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高的特點。該儀器內置的大容量鋰電池以及低功耗設計，使得儀器能長時間進行方便而的方阻/電阻率測量，所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入并保存；手動/自動轉換量程可選。

CXT2661手持式四探針測試儀應用
　　儀器可根據(jù)客戶需要配置不同的測試探頭，測量半導體材料、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、太陽能材料、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻，也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻、開關接觸電阻等。 本儀器采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
　　儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校等研究生產單位對導體、半導體材料、類半導體材料、器件的導電性能的測試，滿足對材料(棒材、片材等)和導電薄膜方塊電阻測量的需要。

成套組成

　　由CXT2661主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。

探頭選型指南

　　根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻。
　　由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此該儀器可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭。
　　根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳細請見探頭選型表。

CXT2661手持式四探針測試儀探頭選型表

CXT2661手持式四探針測試儀性能特點
1、32位核心處理器，測量精度高、穩(wěn)定性好
2、大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰
3、高精度：電阻基本精度：0.1％   方阻基本精度：5 ％  電阻率：5 ％
4、測量范圍寬： 電阻：10-3Ω－2*104Ω 
方阻：10-3Ω/□－105Ω/□ 
電阻率：10-3Ω.cm－105Ω.cm
5、可手動或自動選擇測試量程
6、正反向電流源修正測量誤差
7、材料厚度可預設，自動修正樣品電阻率，無需查表
8、全量程自動清零功能
9、采用采用6000mAH鋰電電池供電，一次充電可長時間使用.
10、3檔分選功能，1檔合格,1檔超上限,1檔超下限
11、適合各種測試探頭，可測多種材料和參數(shù)

CXT2661手持式四探針測試儀技術指標

 

 

標準配件

 

可選配件